En termografía es habitual encontrar casos de reflexión especular. Al medir cobre pulido (ε = 0.03), p.ej., la reflexión especular visible es un indicador de la altamente reflectante superficie del material, o lo que es lo mismo, de una superficie con baja emisividad.
La reflexión especular también ocurre cuando se mide vidrio (ε = 0.94). Cuando una cámara termográfica apunta, p.ej. a un panel de cristal es habitual percibir su propio contorno.
Esto destaca el hecho que altamente especular no siempre significa altamente reflectante, porque la termografía de una pared de arenisca (ε = 0.67) no muestra contorno alguno de los objetos reflejados cuando la arenisca tiene una relativamente baja emisividad.
Por tanto, podemos considerar que si la radiación ambiente se refleja especularmente en trazos diáfanos no depende de la emisividad sino de la estructura de la superficie.